Wir bieten beschleunigte, schlüsselfertige Analysedienstleistungen für die Bewertung von Halbleiterkomponenten und Verpackungen.
Zu den Dienstleistungen gehören
- Rasterelektronenmikroskopie
- Qualitative Röntgenmikroanalyse
- Echtzeitröntgen
- Verpackungs- und Matrizenebenen-Querschnitt
- Chemische Entkapselung
- Nasse und trockene chemische vertikale Entschichtung
- Flüssigkristall-Hotspot-Erkennung
Um diese Dienstleistungen zu erbringen, verwenden wir modernste Geräte von etablierten Unternehmen wie JEOL, Nicolet Imaging Systems, IMI Integrated, B&G und Royce Instruments.
Für weitere Informationen darüber, wie unsere Testdienstleistungen Ihnen helfen können, kontaktieren Sie uns bitte.
